主要應用：

滿足各類型太陽能電池的測試，如非晶硅(Amorphus Silicon, a-Si)、微晶硅(Nanocrystalline Silicon，nc-Si，Microcrystalline Silicon，mc-Si)、半導體化合物[CdS、CdTe(碲化鎘)、CuInSe2]、染料敏化電池(DSSC)、CIGS (銅銦硒化物)、有機太陽能電池(Organic/polymer solar cells)、鈣鈦礦太陽能電池、疊層太陽能電池測試等；

主要特點：

    • 長壽命LED 燈源：平均20000小時；

    • 有效光斑面積：500mmX500mm；

    • 匹配標準AM1.5G 標準光譜；

    • 有效光譜范圍：300nm~1200nm；

    • 初始光強1.3sun；

    • 匹配IEC60904-9 Ed.3國際標準；

    • 光譜不匹配性：<±12.5%    A+ 級

   • 光強不均勻性：<2%    A  級

   • 光強不穩(wěn)定性：<1%   A+   級（LTI）

    • 光強軟件調(diào)節(jié)功能，范圍10%~100%；

    • 光譜軟件調(diào)節(jié)功能；

    • 光強實時反饋控制單元；

    • 工作距離：510mm for A class nonuniformity；

    • 制冷方式：空冷；

    • 光室尺寸：W 900 × H 780 × D 1177 mm

    • 電源尺寸：Size: W 652 × H 693 × D 786 mm

實測光譜：

IV 測試單元：

KTITHLEY 數(shù)字源表

標準電池：

• 追溯性：計量機構(gòu)；

• 標準電池尺寸：20mm*20mm，材質(zhì)單晶硅電池；

• 窗口玻璃可選：KG2，KG5和BK5

• 內(nèi)置PT100標準溫度傳感器；

• 認證機構(gòu)出具證書；

• 附帶測試數(shù)據(jù)。

太陽能電池IV測試軟件：

  1. IV特性曲線

（1）光照條件下，單次測試（包含正向電壓掃描和反向電壓掃描）記錄光電池IV特性曲線，并輸出各項指標參數(shù)，包括Voc（開路電壓）、Isc（短路電流）、Pmax、Vmaxp、Imaxp、Rs（串聯(lián)電阻）、Rsh（并聯(lián)電阻）、Jsc（短路電流密度）、FF（填充因子）、η（發(fā)光效率），同時可以查看整個象限的IV曲線；

（2）光照條件下，連續(xù)多次測量（包含正向電壓掃描和反向電壓掃描）記錄光電池當前及多次測量疊加的IV特性曲線，并實時顯示每次測試結(jié)果的統(tǒng)計數(shù)據(jù)，對多次測量的間隔時間可以進行自定義設(shè)置；

（3）電壓掃描方向控制用戶可以根據(jù)需要，進行單次、多次的正向或反向掃描電壓IV測試，也可以進行單次、多次的正反向電壓交替測試；

（4）暗態(tài)下，測量電池的并聯(lián)電阻Rsh，包括單次測量和多次連續(xù)測量；

2.太陽光模擬器校準采用標準光電池對太陽光模擬器的強度進行校準；

3.暗態(tài)測試測量串聯(lián)電阻Rs，檢驗電池樣品的特性；

4.穩(wěn)態(tài)（偏壓）測試在 Vpmax 或者一定偏壓下，測量效率η 、電流密度 Jsc、電流 I 和功率點 Pmax 隨時間 t的穩(wěn)定性曲線；

5.MPPT追蹤測試正向或者反向掃描，始終追蹤并測量Pmax功率點隨時間的變化；同時測量該條件下對應的 Vmpp 、Impp 和η 轉(zhuǎn)換效率隨時間的變化曲線；

6.Repeatability Test重復性測試測量太陽能電池各項參數(shù)在多次測量或隨時間的衰減曲線；

       7.數(shù)據(jù)自動或手動保存功能：CSV,TXT,RTF 和JPG截屏。

樣品測試夾具(可根據(jù)要求定制)